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6.2.2.2 Measuring Mixed Mode (Balanced) S-Paramet
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Merrill Skolnik, "Introduction to Radar Systems" (McGraw-Hill)
William Schockley Electrons and Holes in Semiconductor
The Elements of Statistical Leaming Data Mining, Inference, and Prediction.
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APPLICATIONS OF OPERATIONAL AMPLIFIERS
Semiconductor Junctions, TU Delft
Donald Peter, Seattle Pacific University: AC 2007-1362: WE CAN DO BETTER: A PROVEN, INTUITIVE, EFFICIENT AND PRACTICAL DESIGN-ORIENTED CIRCUIT ANALYSIS PARADIGM IS AVAILABLE, SO WHY AREN'T WE USING IT TO TEACH OUR STUDENTS?
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