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William Schockley Electrons and Holes in Semiconductor
OCWの電子計測関連
ティール/スモール パラメーターの歴史
The Elements of Statistical Leaming Data Mining, Inference, and Prediction.
HENDRIK W. BODE, Ph.D., Network Analysis and Feedback Amplifier Design
琉球大学理学部講義「物理数学 IJー ベクトル・行内と線形代数 ー前野昌弘
東京大学工学部物理工学科B4 ほの: 「微分方程式 数値解法ハンドブック」(2025 年7 月28 日)
Donald Peter, Seattle Pacific University: AC 2007-1362: WE CAN DO BETTER: A PROVEN, INTUITIVE, EFFICIENT AND PRACTICAL DESIGN-ORIENTED CIRCUIT ANALYSIS PARADIGM IS AVAILABLE, SO WHY AREN'T WE USING IT TO TEACH OUR STUDENTS?
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