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William Schockley Electrons and Holes in Semiconductor
Semiconductor Junctions, TU Delft
2016年度 光エレクトロニクス 筑波大学
Semiconductor Junctions, TU Delft
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The Elements of Statistical Leaming Data Mining, Inference, and Prediction.
Paul R. Gray, Paul J. Hurst, Stephen H. Lewis, Robert G. Meyer: Analysis And Design Of Analog Integrated Circuits
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